基于敏捷測(cè)試過(guò)程的探索性測(cè)試方法研究
關(guān)鍵詞：探索性測(cè)試 敏捷測(cè)試 迭代
摘要：隨著軟件行業(yè)的發(fā)展,敏捷開(kāi)發(fā)過(guò)程中快速迭代、高度集成和文檔簡(jiǎn)略等特點(diǎn)決定了傳統(tǒng)的先設(shè)計(jì)后執(zhí)行的測(cè)試技術(shù)不能較全面地發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)缺陷。新的軟件測(cè)試技術(shù)和方法開(kāi)始發(fā)展起來(lái),尤其是探索性測(cè)試是一種新的測(cè)試思維方式,特別適用于那些事先沒(méi)有能夠進(jìn)行詳細(xì)測(cè)試設(shè)計(jì)或者要求較短時(shí)間內(nèi)發(fā)現(xiàn)被測(cè)軟件的一些重要缺陷的情況。本文主要結(jié)合敏捷測(cè)試過(guò)程闡述探索性測(cè)試的概念和方法等。
電腦迷雜志要求:
{1}提供每位作者的詳細(xì)工作單位（含科室）、所在省市名、郵編。
{2}引用他人著作應(yīng)依次標(biāo)明作者、書(shū)名、出版社、出版時(shí)間、頁(yè)碼。第一版的著作無(wú)須注明版次。
{3}來(lái)稿須為未經(jīng)公開(kāi)發(fā)表的學(xué)術(shù)論著，本刊反對(duì)一稿多投，要求作者所投稿件重復(fù)率不得超過(guò)25%。
{4}一級(jí)標(biāo)題居中，二級(jí)標(biāo)題左對(duì)齊，三級(jí)標(biāo)題左縮進(jìn)2格；文中每張圖、表格均應(yīng)達(dá)到出版質(zhì)量，并在行文中標(biāo)明其位置。
{5}摘要應(yīng)包括目的、方法、結(jié)果和結(jié)論四個(gè)部分，其中中文摘要約300字，英文摘要約600-800字，關(guān)鍵詞2至5個(gè)（中英文）。
注：因版權(quán)方要求，不能公開(kāi)全文，如需全文，請(qǐng)咨詢(xún)雜志社
