錯(cuò)位子陣波束形成與優(yōu)化設(shè)計(jì)
關(guān)鍵詞：錯(cuò)位子陣 波束形成 柵瓣 孔徑效率 遺傳算法
摘要：研究了大間距、可平移、隨機(jī)錯(cuò)位子陣優(yōu)化設(shè)計(jì)問(wèn)題。首先,利用天線方向圖乘積定理闡釋了錯(cuò)位子陣波束形成原理;然后,對(duì)錯(cuò)位子陣優(yōu)化問(wèn)題進(jìn)行建模并采用遺傳算法進(jìn)行求解。優(yōu)化變量為子陣幾何中心,代價(jià)函數(shù)由子陣柵瓣處超陣陣因子和陣列孔徑效率綜合得到,約束條件為所有子陣互不交疊;最后,對(duì)給定的正八邊形陣列進(jìn)行優(yōu)化。研究結(jié)果表明:經(jīng)"最優(yōu)"隨機(jī)錯(cuò)位后,陣列方向圖柵瓣降低14 dB以上,可以滿足工程應(yīng)用,進(jìn)而驗(yàn)證了隨機(jī)錯(cuò)位優(yōu)化方法的有效性。
現(xiàn)代雷達(dá)雜志要求:
{1}作者簡(jiǎn)介須打印在首頁(yè)地腳處，內(nèi)容有姓名、工作單位、職稱、研究方向。
{2}依照《著作權(quán)法》規(guī)定，本刊可以對(duì)來(lái)稿作文字修改、刪節(jié)，必要時(shí)可以進(jìn)行內(nèi)容的修改。
{3}正文標(biāo)題：文內(nèi)各級(jí)標(biāo)題題號(hào)一律頂格書(shū)寫，標(biāo)題題號(hào)分級(jí)采用1；1.1；1.1.1等標(biāo)注形式。結(jié)構(gòu)層次不宜過(guò)多，一般為二級(jí)或三級(jí)。
{4}規(guī)范使用參考文獻(xiàn)，核對(duì)準(zhǔn)確，一律采用頁(yè)下注，每頁(yè)重新編號(hào)，序號(hào)格式為①、②……。
{5}摘要應(yīng)包括目的、方法、結(jié)果和結(jié)論四個(gè)部分，其中中文摘要約300字，英文摘要約600-800字，關(guān)鍵詞2至5個(gè)（中英文）。
注：因版權(quán)方要求，不能公開(kāi)全文，如需全文，請(qǐng)咨詢雜志社
